全自动显微角分辨光谱及成像系统
角分辨光谱
角分辨光谱仪具有在不同角度下探测材料光谱性质的能力,突破传统光谱技术不能分辨角度的局限,是获取光子材料色散关系,实现光学性质“全面表征”的重要手段,在微纳光子学、低维材料、发光材料等领域具有重要应用价值。系统结构
显微角分辨光谱是由白光源经科勒照明光路后再经物镜产生宽场各个角度的平行光入射到样品上;样品上出射的各个角度的光再由物镜收集聚焦在后焦面上,角分辨收集光路再对物镜后焦面上的光进行成像;最终物镜后焦面上的光点即可由光谱仪CCD面阵列成像,也可由光纤头收集进入光谱仪采集角分辨光谱。该全自动显微角分辨光谱及成像系统支持全电动变入射及收集角度、实空间与动量空间电动切换、最小角度0.028°,宽光谱范围测试400-1700nm全系统采用大通光空间元件,角度光收集效率更高、可定入射收集角度,可为光子晶体、拓扑光子学、超构材料和光-物质强耦合等研究领域提供卓越的解决方案。全自动显微角分辨光谱及成像系统技术参数
1.测量模式: 全角度入射透反射模式,定角度入射透反射模式,白光角分辨光谱及成像模式,荧光角分辨光谱及成像模式。全自动显微角分辨光谱及成像系统典型应用
金纳米球超晶格近红外波段的白光角分辨光谱,反映该结构的光学共振模式随着白光入射角度的变化规律,根据测量结果可优化结构设计Copyright © 2020 Zolix .All Rights Reserved 地址:北京市通州区中关村科技园区通州园金桥科技产业基地环科中路16号68号楼B.
ICP备案号:京ICP备05015148号-1
公安备案号:京公网安备11011202003795号