EN
首页 > 产品 > 科研分析仪器 > 微区磁光及角分辨 > 测量三阶光学非线性的Z扫描系统

测量三阶光学非线性的Z扫描系统

Z扫描测量系统,可用于研究光子材料的三阶非线性吸收特性,三阶非线性折射,三阶非线性极化率及单光子/双光子品质因子。此系统将工控机、电机控制器、Z扫描光路高度集成,设备占地小且方便移动。将样品放置好后,按操作说明可进行一键全自动测量。
产品咨询
资料下载
产品概述

测量三阶光学非线性的Z扫描系统
Waynelabs3 的Z扫描测量系统,可用于研究光子材料的三阶非线性吸收特性,三阶非线性折射,三阶非线性极化率及单光子/双光子品质因子。此系统将工控机、电机控制器、Z扫描光路高度集成,设备占地小且方便移动。
将样品放置好后,按操作说明可进行一键全自动测量。
 
系统原理示意图
*此图仅作为原理示意,以实际为准
 
应用场景
表征非线性光学材料的三阶非线性光学特性,包括三阶非线性吸收系数和三阶非线性折射,三阶非线性极化率及单光子/双光子品质因子。
· 铌酸锂、ZnO等薄膜材料;
· 贵金属纳米结构溶液或者薄膜材料;
·  二维材料(TMDs、钙钛矿等)薄膜。
 
典型数据图
 
XML 地图